NB/T 47013.2-2015 射线检测

• 前言编制说明
• 1范围第 25 页
• 2规范性引用文件第 25 页
• 3术语和定义第 25 页
• 4一般要求第 26 页（含 4.3 检测技术等级、4.4 检测工艺文件）
• 5检测工艺及其选择第 30 页（含 5.4 胶片选择、5.5 透照方式、5.7 透照布置）
• 6承压设备熔化焊焊接接头射线检测结果评定和质量分级第 42 页
• 7承压设备管子及压力管道熔化焊环向焊接接头射线检测结果评定和质量分级第 47 页
• 8检测记录和报告第 51 页
• 附录A管子-管板角焊缝射线照相技术要求资料性附录，第 52 页
• 附录B工业射线胶片系统的特征指标规范性附录
• 附录C黑度计（光学密度计）定期核查方法资料性附录
• 附录D~K名称暂未获取
• 附录L未焊透深度检测用对比试块据期刊论文引用，属性暂未获取

第 ④ 项改用后的 7.1.1 条原文

⚠️ 暂未获取：第 ④ 项条文在来源中即被截断，“对于熔化焊对接纵向焊接接头（包括……”之后的表述未取得。该句涉及纵向接头的适用性，属重要限定条件，请以修改单原件为准。

⚠️ 单源待校验：修改单 4 项内容由两处独立来源交叉印证（分析测试百科网所载修改通知单影印件、标准文本合订本），可靠性较高；其中第 ④ 项的新条文另与一篇专述第 7 章的公开文章表述一致。

适用范围的三个维度

⚠️ 暂未获取：公开解读资料称本部分适用的工件厚度范围“拓展至 6～500 mm（Ⅰ 型接头）”，但该数值仅有单一来源且未标明条款号与接头型式定义的对应关系，本页不列入正文表格，厚度限值请以标准第 1 章及第 5 章原文为准。

三级技术的选用要点

⚠️ 单源待校验：表中“典型适用情形”一列的 AB 级与 B 级来自 4.3.2 条原文，A 级一栏及 LNG、核设备等举例取自公开解读资料，非标准条文。

⚠️ 暂未获取：各级别对应的底片黑度范围与射线源至工件最小距离公式，公开资料存在两种流传版本（一说 A 级 1.5～4.5、AB 级 2.0～4.5、B 级 2.3～4.5；另说最小距离 f ≥ 7.5d·b^(2/3)、10d·b^(2/3)、15d·b^(2/3)），均为解读资料且未标明条款号，本页不予列出。这两项是射线检测工艺的核心参数，必须核对标准原件。

• a)　适用范围中的结构、材料类别及厚度；
• b)　射线源种类、能量及焦点尺寸；
• c)　检测技术等级；
• d)　透照技术；
• e)　透照方式；
• f)　……（来源在此截断，后续各项暂未获取）

⚠️ 暂未获取：4.4.2 条 f) 项及其后的全部相关因素、以及 4.4.3 条关于操作指导书的规定，本轮均未取得。

如何理解“C5 类或更高类别”

⚠️ 暂未获取：上述对分类方向（序号越小质量越高）的解释为本页为便于理解所作的说明，各胶片类别的具体特征指标见本部分附录 B（规范性附录），该附录内容本轮未取得。

• 透照方式优先选用单壁透照；
• 小径管（D₀ ≤ 100 mm）环向焊接接头采用双壁双影透照；
• T/D₀ ≤ 0.12 时，隔 90° 透照 2 次；T/D₀ > 0.12 时，隔 120° 或 60° 透照 3 次；
• 垂直透照重叠成像一般相隔 120° 或 60° 透照 3 次；
• 5.5.6.4（修改单新增）：不要求 100% 检测的小径管环向焊接接头的透照次数由合同双方商定。

⚠️ 单源待校验：除 5.5.6.4 条为修改单原文（可靠性高）外，其余各项及 D₀ ≤ 100 mm、T/D₀ 分界值 0.12 等数值均仅有单一公开来源，且未标明对应条款号。小径管透照次数直接决定检测覆盖率，实际执行务必核对标准第 5.5 条原文。

• 圆形缺陷的评定区为 10 × 20 mm；
• 缺陷级别超过 Ⅲ 级者定为 Ⅳ 级（即 Ⅳ 级为不合格）；
• Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ 级均不允许存在裂纹、未熔合和未焊透。

⚠️ 单源待校验：上表与下列要点均来自解读性资料，两处来源表述一致但很可能同源，且未标明各自对应的条款号（本部分第 6 章按缺陷类型分多条规定）。质量分级是判定焊接接头合格与否的直接依据，本表仅供参考框架，严禁据以判废或验收，必须核对标准第 6 章原文及相应产品标准、图样与合同技术条件。

⚠️ 暂未获取：圆形缺陷点数与缺陷评定区尺寸的换算规则（不同壁厚对应的评定区尺寸）、根部未焊透与根部内凹的专门规定、综合评级规则等条款，本轮均未取得。

适用范围（7.1.1 条，已含第 1 号修改单改写内容）

七类缺陷

评级要点

• Ⅰ 级：不允许存在根部内凹和根部咬边；
• Ⅱ 级和 Ⅲ 级：不允许存在裂纹、未熔合，以及加垫板单面焊中的未焊透；
• 不加垫板单面焊的未焊透：按管径和深度分级；
• 综合评级：取最低级别；级别相同时降低一级。

⚠️ 单源待校验：“七类缺陷”与 7.1.1 条适用范围两处来源一致（其中 7.1.1 条另有修改单影印件印证，可靠性高）；“评级要点”四项仅有单一来源且未标明条款号，请以标准第 7 章原文为准。

⚠️ 单源待校验：以上为 NB/T 47013.1-2015 第 5.2.1 条的转录文本，仅有单一公开来源，条款编号与逐字表述建议对照第 1 部分标准原件核验。注意局限性 e) 项：射线检测难以测定缺陷自身高度，这正是 TOFD（第 10 部分）与相控阵超声（第 15 部分）的价值所在。

• X 射线机
• γ 射线源（2015 版新增 Tm170、Yb169 的应用规定）
• 工业射线胶片系统，按 C1～C6 分 6 类（特征指标见规范性附录 B）
• 观片灯
• 黑度计（光学密度计），定期核查方法见资料性附录 C
• 像质计：线型（丝型）与孔型两类，孔型像质计的应用为 2015 版新增内容
• 增感屏（2015 版新增质量及使用要求）、滤光板（新增应用推荐技术要求）
• 标准密度片（2015 版新增黑度范围规定）

⚠️ 单源待校验：上表为对已核实条目的归集，各项来源分散（部分出自 2015 版技术变化清单，部分出自解读资料），未标明对应条款号；像质计灵敏度要求、增感屏与滤光板的具体规定等数值本轮均未取得。

⚠️ 暂未获取：像质计的材料要求（其吸收系数应接近被检材料）、像质计放置位置与对比试验方法、各透照厚度对应的像质计灵敏度值等关键条款，本轮未取得可核验原文。

适用范围与检测对象

• 扩大适用范围，增加管座角焊缝和管子-管板角焊缝检测要求
• 增加 Tm170 和 Yb169 射线源应用规定
• 修改结构受限小径管透照原则
• 修改小径管专用对比试块

器材与影像质量

• 工业射线胶片系统由 4 类（T1～T4）升级为 6 类（C1～C6）
• 增加孔型像质计应用内容
• 取消专用像质计型式和规格内容
• 修改不同透照厚度像质计灵敏度要求
• 增加增感屏质量及使用要求
• 增加滤光板应用推荐技术要求
• 增加标准密度片黑度范围规定
• 修改黑度计核查时机
• 增加双胶片透照技术

工艺与评定

• 增加内偏心透照次数计算公式
• 增加焊接接头检测区宽度范围确定内容
• 增加有效评定区搭接技术要求
• 修改定位标记和识别标记放置原则
• 增加 γ 射线源曝光时间限值及多源曝光限制规定
• 增加暗室安全照射时间确定内容
• 增加胶片暗室处理试剂选用原则及底片保存内容

⚠️ 单源待校验：上述 20 项变化清单仅有单一公开来源整理，且未逐项标明对应条款号。其中“胶片系统由 T1～T4 四类改为 C1～C6 六类”一项另获独立来源印证（该来源同时指出 2015 版采用了新版 GB/T 19348.1-2014），可靠性较高；其余各项请以标准前言中的修订说明为准。

拟更名带来的系列命名变化

征求意见稿中已见的修订方向

⚠️ 暂未获取：新版尚未发布，当前现行有效版本仍为 NB/T 47013.2-2015（含第 1 号修改单）。征求意见稿的完整修订内容本轮未取得，不作展开。

• 第 2 章规范性引用文件清单（已知至少含 GB/T 23910，系由 JB/T 5075 经修改单替换）
• 第 3 章术语和定义
• 第 4.1、4.2 条（检测人员、检测设备和器材的完整规定，含 4.2.6.1 条）
• 第 5 章除 5.4、5.5 外的其余条款（透照布置、曝光参数、散射线的屏蔽、5.7.1 条关于厚壁管道中心透照的规定等）
• 附录 D～K 共 8 个附录的名称与内容，附录 B 的胶片系统特征指标表
• 附录 L 的对比试块规定（据期刊论文，本部分规定的对比试块在检测缺陷高度时存在局限）
• 第 8 章检测记录和报告的具体内容项（第 1 部分第 7 章有通用规定，本部分另有专门要求）
• 总页数

⚠️ 暂未获取：以上各项均未取得可核验原文，本页不作推测性补写。